X射线荧光膜厚仪XTU-40

产品简介:

微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测

变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm

自主研发EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可精准测量

微米级移动精度:高精密XY移动滑轨,实现多点位、多样品的精准位移和同时检测,移动精度可达5um,轻松应对极微小样品检测

先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限

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