设备功能：
手持XRF镀层分析仪用于合金材料中金属元素含量的分析测定和不锈钢等牌号匹配，同时也可以测试各种金属镀层厚度（um）、贵金属载量测试(g/m²,mg/cm²)。根据安装的软件分为两套模式：
合金模式：
可分析元素周期表中从Mg到U之间的所有元素，报出金属材料各元素的百分比含量。涵盖Mg,Al,Si,P,S,Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Se，Zr，Nb，Mo，Rh ，Pd，Ag，Cd，Sn，Au,Sb，Hf，Ta，W，Pb，Bi,等30多种元素，广泛应用于金属回收和合金材料鉴别（PMI），石化建设，金属冶炼，压力容器，电力电站，石油化工，精细化工，制药，铸造，航空航天等行业，检出限达ppm级。
镀层模式：
可分析铜镀银、铜镀锡、铁镀镍、铁镀锌等金属的多种镀层厚度（0-50U），镀层曲线可自行添加编辑；也可用于氢能源电池材料质子膜电极的贵金属载量测试，如Pt、Ru、Pd、Ni、Co、Fe、Cu、Ir、Ce等元素的载量测试，单位g/m²或mg/cm2，内置纯元素模式，可以实现后续增加元素定载，测试误差不高于±0.02mg/cm²。
技术参数:
重量 | 1.6Kg（配置电池） |
外形尺寸 | 254 x 79 x 280mm |
激发源 | 新型一体化微型X射线管，6-50KV管压/0-200uA管流可自由调节，Ag靶材（标准），Au、W、Rh靶（可选配） |
探测器 | TrueX 880SSY标配Si-pin探测器，选配配置SDD探测器。 |
检测范围 | Si-pin探测器： 钛（Ti）到铀（U）之间的所有元素 高频SDD探测器： 镁（Mg）到铀（U）之间的所有元素 |
语言 | 操作语言包括中文、英语在内的多国语言 |
系统处理器 | ARM Cortex-A8 1GHZ处理器 Android 4.2操作系统 80MHz ADC数字脉冲处理器 4096 MCA通道，32G存储器 |
显示屏 | 工业电阻触摸屏，屏幕尺寸:4.3" |
数据存储 | 内置32G存储器，可存储300K个光谱数据及谱图 |
数据传输 | USB, 蓝牙，WIFI，可将设备联入互联网，可远程对仪器进行设置及检修。 |
数据打印 | 数据可采用EXCEL，PDF格式输出，用户可自定义创建专业报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息（如产品描述、产地、批号等） |
散热性 | 仪器配有专用的T型槽式散热装置，提高仪器散热性能，无需频繁等待探测器冷却。 |
安全性 | 自动感知仪器前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级。且自动根据外部环境亮度调节显示器亮度。 |
